한국전기연구원 초전도응용연구그룹의 박찬 박사가 정진석 숭실대 교수와 공동으로 발표한 ‘X-ray microdiffraction study of growth modes and crystallographic tilts in oxide films on metal substrates’논문이 세계적인 과학 전문잡지인 ‘네이처 머티어리얼스’ 7월호에 게재됐다.
박찬 박사와 정 교수는 ‘Xtjs 미세회절’연구를 통해 1um 이하의 크기로 응집한 방사광 X선 미세회절을 이용해 다층구조를 가진 재료의 각 층별 국부구조와 방향성 및 변형 정보를 서브마이크론 수준의 해상도로 얻었다.
아울러 이들은 “방향성을 갖고 있는 다결정 기판과 기계적 특성이 매우 다른 박막입자의 기울어짐 관계를 규명할 수 있는 새로운 특성평가방법도 개발함으로써 금속기판 산화물박막 구조를 갖고 있는 다층재료의 박막증착기구와 계면 내의 결정학적 차원의 기울어짐 구조를 용이하게 규명할 수 있었다”고 밝혔다.
또 이 연구를 통해 축적한 금속 산화물계 재료 입자들의 기울어짐 구조 규명 기술은 열장벽 코팅, 태양전지, 전자소자의 계면 부식 등에 다양하게 활용될 수 있다.
현재 이들이 개발한 기술은 서브마이크론 수준의 높은 해상도를 가진 정보를 얻을 정도의 첨단기술로 앞으로 나노 크기의 미세회절을 가능하게 할 경우 기존의 기술로는 규명할 수 없었던 다양한 크기의 박막 재료의 물리적 특성뿐만 아니라 나노 크기의 구조 및 변형 등의 정보를 얻는데도 크게 활용될 수 있을 전망이다.

〈변국영 기자〉